EDX7100是專門針對ROHS/無鹵檢測、EN71等環(huán)保指令設計的一款光譜儀，是一款快速、準確且經(jīng)濟高效的XRF熒光光譜分析儀，可快速檢測鉛（Pb），鎘（Cd），砷（As），汞（Hg），鉻（Cr），溴（Br），氯（Cl）和其他有毒有害元素。
技術原理：
RoHS檢測儀目前市場上常見的類型是X射線熒光分析儀，又分為能量色散型和波長色散型，能量色散型因其技術原理及結(jié)構(gòu)比波長色散型簡單，現(xiàn)市場上比較常見，其技術原理：
特征X射線
放射性同位素源或X射線發(fā)生器放出的X射線或Γ射線與樣品中元素的原子相互作用，逐出原子內(nèi)層電子。當外層電子補充內(nèi)層電子時，會放射該原子所固有能量的X射線-特征X射線。
元素含量與特征X射線強度的關系
不同元素特征X射線能量各不相同，依此進行定性分析；再根據(jù)特征X射線強度大小，可進行定量分析。
可用函數(shù)關系式表示為：C=f(k1I1, k2I2, k3I3...)
式中：Kn(n=1,2,3…)表示第n號元素的待定系數(shù)
In(n=1,2,3…)表示第n號元素釋放的特征X射線強度
由此可知只要通過標定確定系數(shù)Kn之后便可進行物質(zhì)中元素的定量分析了。
優(yōu)勢：
一鍵式自動測試，使用更簡單，更方便，即使非技術人員也能快速上手。
采用美國AmpTek新型Si-pin探測器，電致冷技術，體積小、數(shù)據(jù)分析準確且維護成本低。
采用自主研發(fā)的探測器信號增強處理系統(tǒng)，提高信噪比，達到實驗室級別1ppm檢出限。
多重防輻射泄露設計，輻射防護級別屬于同類產(chǎn)品。
機芯溫控技術，保證X射線源的安全可靠運行，降低使用成本。
優(yōu)化了Cl，Cr等元素的檢測，大大提高了低含量Cl和Cr元素的測試靈敏度和穩(wěn)定性，為用戶的無鹵分析提供了更精準的檢測方法。
可拓展鍍層測厚及金屬合金成分分析EDX7100的PC報告軟件可立即生成報告，也可自定義報告樣式，包括分析結(jié)果，樣品信息，光譜信息和樣品圖像。可追溯的文檔使EDX7100成為RoHS符合性測試的理想工具。
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