EDX9000A能量色散熒光光譜儀-合金元素分析專家

合金分析是鑒定樣品化學(xué)成分的過(guò)程。使用X射線熒光（XRF）光譜儀，不僅能快速確定合金PMI（Positive material identification），而且能準(zhǔn)確得到整個(gè)合金材料的元素組成。EDX9000A已廣泛用于各種需要合金成分分析的行業(yè)，從航空航天測(cè)試，原材料分析，質(zhì)量控制，冶煉，金屬加工，焊接，到廢料回收和快速分類篩檢等領(lǐng)域。

作為一款高性能的臺(tái)式能量色散X射線熒光光譜儀，新款EDX9000A配置了基于Windows基本參數(shù)算法的FP（Fundamental parameter）軟件。FP軟件是合金分析的條件之一，F(xiàn)P算法能大幅降低合金樣品中各金屬元素間的吸收增強(qiáng)效應(yīng)，從而來(lái)滿足客戶對(duì)于各類復(fù)雜合金樣品的元素分析需求。

XRF熒光光譜合金分析儀特點(diǎn)：

>無(wú)需每天重復(fù)標(biāo)定，快速分析，簡(jiǎn)單易用。

>多組合濾光片系統(tǒng)，有效提高微量元素檢出限。

>堅(jiān)固耐用，適用于于各種復(fù)雜而嚴(yán)苛的現(xiàn)場(chǎng)工作環(huán)境。

>*的性價(jià)比。

EDX9000A結(jié)合了新的樣品激發(fā)和信號(hào)檢測(cè)技術(shù)，使得它的分析性能可以與實(shí)驗(yàn)室分析結(jié)果相媲美。通過(guò)配備不同濾光片和光路準(zhǔn)直器，高功率X射線管，以及美國(guó)Amptek的SDD硅漂移檢測(cè)器，EDX9000A實(shí)現(xiàn)了優(yōu)秀的硬件組合。

選擇金屬合金分析儀時(shí)，客戶通常會(huì)重點(diǎn)關(guān)注測(cè)試準(zhǔn)確性，分析速度和設(shè)備耐用性，而EDX9000A是對(duì)上述三點(diǎn)指標(biāo)的體現(xiàn)。同時(shí)，該光譜儀能同時(shí)對(duì)多種不同類型的合金進(jìn)行快速定性定量分析，包括：

鎂合金、鋁合金、鈦合金、高合金鋼、中低合金鋼、工具鋼、貴金屬、鈷合金、鎳合金、銅合金、鋅合金、貴重合金、黃銅、青銅、焊錫等。

EDX9000A操作簡(jiǎn)單，分析性能出色，還可拓展到以下應(yīng)用：

>涂層厚度和薄膜：分析多層涂層，鋼涂層，雜質(zhì)等

>電鍍液元素分析

>催化劑貴金屬元素分析

XRF熒光光譜合金分析儀特點(diǎn)：

作為一款專業(yè)為合金元素分析而設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的光譜儀，EDX-9000A兼顧了耐用性，易于操作和高性價(jià)比。其優(yōu)勢(shì)主要有：

•更快---全程無(wú)損分析，一到三分鐘即可出結(jié)果（可實(shí)時(shí)刷新測(cè)試結(jié)果）

•更準(zhǔn)---強(qiáng)大的基于Windows的FP（基本參數(shù)算法）軟件降低了基體元素間吸收增強(qiáng)效應(yīng)，并同時(shí)考慮到不同基體對(duì)光譜強(qiáng)度變化的干擾，把測(cè)試準(zhǔn)確度提高到了新的水平

•更穩(wěn)---使用新的硅漂移檢測(cè)器SDD可得到更好的測(cè)試穩(wěn)定性和長(zhǎng)期重復(fù)性，該款檢測(cè)器可在相同樣品激發(fā)條件下獲得更高的光譜強(qiáng)度（計(jì)數(shù)率CPS）。多道分析器DPP可實(shí)現(xiàn)超過(guò)100,000 cps的線性計(jì)數(shù)速率而同時(shí)保證優(yōu)秀的光譜分辨率，通常優(yōu)于130 eV，以更好地分離不同元素的光譜。與傳統(tǒng)的EDXRF臺(tái)式儀器相比，EDX9000A光譜儀可以全功率運(yùn)行，因此實(shí)現(xiàn)了更精準(zhǔn)的測(cè)試表現(xiàn)。

•無(wú)需消耗昂貴的氬氣或者氦氣，極大的降低了儀器的使用和維護(hù)成本

•無(wú)需或者很少的樣品制備，通常簡(jiǎn)單的拋光樣品表面后即可上機(jī)測(cè)試

•不需要每天標(biāo)定儀器，開(kāi)機(jī)即可檢測(cè)，大大提高生產(chǎn)效率，并降低了對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品的依賴

•多重儀器硬件保護(hù)系統(tǒng)，并可通過(guò)軟件進(jìn)行全程實(shí)時(shí)監(jiān)控, 讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全

•特別設(shè)計(jì)的光路和真空系統(tǒng)提高了輕元素的測(cè)試靈敏度3-5倍(Na, Mg, Al, Si, P)

•友好的用戶界面，可定制的分析報(bào)告，可一鍵打印測(cè)試報(bào)告，包括分析結(jié)果，樣品信息，光譜信息和樣品圖像

•八種光路準(zhǔn)直系統(tǒng)，根據(jù)不同樣品大小自動(dòng)切換，亦可測(cè)試樣品不同位置再求平均值，降低樣品不均勻性造成的誤差

•高清內(nèi)置攝像頭，清晰地顯示儀器所檢測(cè)的樣品部位

儀器參數(shù)：

儀器配置：

功能強(qiáng)大而界面友好的測(cè)試軟件：

黃銅樣品10次測(cè)試穩(wěn)定性報(bào)告：

界面清晰易用。一鍵測(cè)試，簡(jiǎn)單易用，無(wú)需手動(dòng)選擇工作曲線，軟件自動(dòng)匹配樣品基體，即使非專業(yè)技術(shù)人員也能快速掌握儀器使用。

基本參數(shù)FP和經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法EC的結(jié)合不僅可以分析高純合金，也可以對(duì)基體復(fù)雜的多雜質(zhì)樣品進(jìn)行定性定量分析。FP參數(shù)算法的應(yīng)用，也使得儀器對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品的依賴度大大降低。

>一鍵初始化儀器，基體自動(dòng)匹配

>自動(dòng)定性，半定量和定量分析，不同樣品測(cè)試譜圖可實(shí)時(shí)對(duì)比

>光譜處理和校正，去除雙倍峰和逃逸峰干擾，降低元素吸收增強(qiáng)效應(yīng)影響

>光譜背景扣除，有效提高微量元素檢測(cè)精度

>可實(shí)時(shí)刷新測(cè)量結(jié)果

>簡(jiǎn)單的流程欄向?qū)Э蓭椭脩魟?chuàng)建新的自定義標(biāo)定曲線

>可定制化測(cè)試報(bào)告，一鍵打印